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计算机硬件根底
实验报告
指导教师：
XX：
班级：
学号：
目录
实验一：运算器实验－－－－－－－－－－－第3页
实验二：存储器读写实验－－－－－－－－－第6页
实验三：数据通路实验－－－－－－－－－－第8页
实验四：微程序控制器试验－－－－－－－第10页
实验五：TEG-G1模型计算机〔微程序控制器〕测试－－－－－－－－－－－－－－－－－－－第12页
实验六：TEG-G1模型计算机〔硬连线控制器〕测试－－－－－－－－－－－－－－－－－－－第14页
实验七：程序调试BEDUG实验－－－－－－第16页
实验八：内存操作数及寻址方法实验－－－第18页
附录局部：－－－－－－－－－－－－－－第20页
?实验七调试程序DEBUG?实验手册
?实验八内存操作数及寻址方法?实验手册
实验一：运算器实验
一、实验目的：
1.熟悉存放器的读写操作。
2.熟悉运算器的数据通路。
3.验证运算器的加、减、与、或功能。
4.按给定的数据，完成几种指定的算术、逻辑运算功能。
二、实验原理：
实验电路图详见实验指导书P12-P13页。
操作方式选择
S3S2S1S0
M
操作
类型
功能
HLLH
L
加法
F=A加B
LHHL
L
减法
F=A减B
HLHH
H
逻辑与
F=A与B
HHHL
H
逻辑或
F=A或B
HHHH
H
传送1
F=A
HLHL
H
传送2
F=B
TEC-G1中运算器操作功能
实验设备：
1.TEC-G1计算机组成实验系统1台
2.双踪示波器1台
3.直流万用表1只
实验内容：
用逻辑笔测试时序信号T1、T2、T3。
对下述7组数据进展加、减、与、或运算。
A=0F0H,B=10H
A=10H,B=0F0H
A=03H,B=05H
A=0AH,B=0AH
A=0FFH,B=0AAH
A=55H,B=0AAH
A=0C5H,B=61H
3.在实验过程中，记录每一步中有关信号的值，并对这些信号的作用予以解释。
实验步骤：详见实验指导书P14-P16页。
六、实验结果：
1.用逻辑笔测试时序信号T1、T2、T3
时序信号
QD
指示灯
D1
D0
高
低
T1
T2
T3
2.7组数据的加、减、与、或运算结果与C、Z标志位
数值
运算
加
减
与
或
C
Z
A=0F0H,B=10H
A=10H,B=0F0H
A=03H,B=05H
A=0AH,B=0AH
A=0FFH,B=0AAH
A=55H,B=0AAH
A=0C5H,B=61H
3.试验中记录每一步中有关信号的值，并对这些信号的作用予以解释
操作
指示灯
SEL0
SEL1
SEL2
SEL3
LR
SWBUS
ALUBUS
LDZ
LDC
写入D0-D7
写入A0-A7
写入B0-B7,加
减
与
或
重置
解释：
七、思考题：〔加分工程〕
为什么在A总线上出现数据A、在B总线上出现数据B后，在数据总线DBUS上能够直接观测运算的数据结果，而标志结果却在下一步才能观测到?
答：
实验二：存储器读写实验
实验目的：
1.了解静态随机读写存储器MH6116的根本工作特性及使用方法。
2.了解半导体存储器SRAM怎样存储和读出数据。
实验原理：
详见实验报告书P16-P19页。
注：1.存储器器件HM6116外形图详见实验报告书P17页
2.写操作时序图详见实验报告书P17页
3.读操作时序图详见实验报告书P18页
4.存储器实验电路图详见实验报告书P18页
实验设备：
1.TEC-G1计算机组成实验系统1台
2.双踪示波器1台〔非必备〕
3.直流万用表1只
实验内容：
将以下10十个数写入从地址23H开场的10个存储单元。
10H，11H，12H，13H，14H，2AH，2BH，25H，0FH，08H
2.从地址23H开场的存储单元连续读出10个数，并将读出的数和写入的数比拟，看是否一致。
3.在存储器读、写的过程中，记录下有关信号的值，并且解释这些信号的作用。
实验步骤：
详见实验报告书P19-P21页。
实验结果：
1.实验内容1和2制作成动画录像收存
2.在存储器读、写的过程中，记录下有关信号的值，并且解释这些信号的作用
操作
指示灯
SWBUS
RAMBUS
LAR
SELAR
LRW
ARINC
输入存储地址
输入存储信息
输入读取地址
解释：
3.结合实验报告书P18页的存储器实验电路图，说明在TEC
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