2025年常用的decap MOS电容版图介绍

常用的decap MOS电容版图介绍decap 全程去耦电容 Decoupling Capacitor 后端设计主要用来防止动态 ir drop 过大的问题 影响 std cell 供电 进而影响 cell 速度 添加方式 添加方式有三种 其一在 preplace 阶段用加 tapcell 的方式以阵列形式加在高频模块 place 的区域 第二种是加在 CK BUF 周围 可以在 cts 阶段加 也可以 signoff 阶段加 前提是 CK

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decap全程去耦电容(Decoupling Capacitor),后端设计主要用来防止动态ir drop过大的问题(影响std cell供电,进而影响cell速度)。

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添加方式

添加方式有三种,其一在preplace阶段用加tapcell的方式以阵列形式加在高频模块place的区域,第二种是加在CK BUF周围,可以在cts阶段加,也可以signoff阶段加,前提是CK BUF周围先加keepout margin留好空间,最后一种是在signoff阶段整体加(可以指定一定比例),之所以按比例加而不是尽可能都用decap是因为decap存在漏电。

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版图结构

常用的两种decap版图如下:

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